パス：OKデータシート > 半導体データシート > TIデータシート > SNJ54ABT8646JT
SNJ54ABT8646JTデータシート： SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
SNJ54ABT8646JT同様の
- SNJ5400J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400WA
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5401J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5401W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
SNJ54ABT8646JTデータシート規格
メーカー : TI
パッキン : JT
ピン : 28
温度 : 分 -55 °C | マックス 125 °C
サイズ : 426 KB
アプリケーション : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
SNJ54ABT8646JT PDFダウンロード
