パス：OKデータシート > 半導体データシート > TIデータシート > SNJ54ABT18646HV
SNJ54ABT18646HVデータシート： SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
SNJ54ABT18646HV同様の
- SNJ5400J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5400WA
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES
- SNJ5401J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5401W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUT
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402J
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
- SNJ5402W
- QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NOR GATES
SNJ54ABT18646HVデータシート規格
メーカー : TI
パッキン : HV
ピン : 68
温度 : 分 -55 °C | マックス 125 °C
サイズ : 455 KB
アプリケーション : SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS
SNJ54ABT18646HV PDFダウンロード
