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SN74BCT8374ADWRデータシート: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
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SN74BCT8374ADWRデータシート: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
メーカー : TI
パッキン : DW
ピン : 24
温度 : 分 0 °C | マックス 70 °C
サイズ : 323 KB
アプリケーション : SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS